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公司基本資料信息
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可編程高低溫濕度測試箱 負20度高低溫試驗箱可程式控制器的主要功能:
1、5.7寸彩色液晶觸摸顯示屏,中英文操作畫面任意選擇,觸控式屏幕面板,操作簡單,美觀大方,程序編輯容易。
2、最大具有120組可編定的程序容量,每組可記憶100段溫度自行操作。
3、具有多項擴充功能,控制器可經(jīng)由RS/232或RS/485接口與計算機聯(lián)機,也可定制USB導出數(shù)據(jù),可連接打印機打印高低溫度曲線監(jiān)控數(shù)據(jù)。
4、可顯示完整的系統(tǒng)操作狀況、實時顯示執(zhí)行及設(shè)定程序曲線。
5、故障報警,并顯示排除故障的方法。
6、采用先進的專用微處理器芯片,可靠性高,抗干擾能力強。
可編程高低溫濕度測試箱 負20度高低溫試驗箱執(zhí)行與滿足標準
GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備
GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法;
GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法;
GB/T 2423.22-2002電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗N 溫度變化試驗方法;
GB/T10592-2008《高、低溫試驗箱技術(shù)條件》;
GB/T 10589-2008《低溫試驗箱技術(shù)條件》;。
MIL-STD810D方法502.2 美國軍用標準;
IEC 68-2-1-1990 中文名稱: 基本環(huán)境試驗規(guī)程.第2部分:第1節(jié).試驗.試驗A:低溫試驗
EC68-2-14_試驗方法N_溫度變化
可編程高低溫濕度測試箱 負20度高低溫試驗箱型號規(guī)格參數(shù)如下:
型號AP-GD-150 內(nèi)箱尺寸:W×H×D 400×500×400㎜ 外箱尺寸:970×1360×970㎜
型號AP-GD-150 內(nèi)箱尺寸:W×H×D 500×600×500 ㎜ 外箱尺寸:1070×1460×1070㎜
型號AP-GD-225 內(nèi)箱尺寸:W×H×D 500×750×600 ㎜ 外箱尺寸:1070×1610×1170㎜
型號AP-GD-408 內(nèi)箱尺寸:W×H×D 600×850×800 ㎜ 外箱尺寸:1170×1710×1270㎜
型號AP-GD-800 內(nèi)箱尺寸:W×H×D 1000×1000×800 ㎜ 外箱尺寸:1550×1840×1290㎜
型號AP-GD-1000 內(nèi)箱尺寸:W×H×D 1000×1000×1000㎜ 外箱尺寸:1550×1840×1470 ㎜
溫度范圍: -70℃~+150℃(可只選擇-40℃~+150℃;-20℃~+150℃;0℃~+150℃;)
溫度波動度:±0.5℃
溫度解析精度:0.01℃
溫度控制精度:±0.2℃
升溫/降溫時間:3.0℃/分鐘;1.0℃/分鐘(此升降溫速率是根據(jù)國家標準要求的,要定制快速升降溫的顧客請下單時跟愛佩業(yè)務(wù)員說明,謝謝)
電源:3φ5 380V AC±10% 50/60HZ或1φ3 220V AC±10% 50/60HZ(根據(jù)功率大小而配置)